在線功能測試
Compact系列設(shè)計(jì)為貼合以及滿足客戶“精益生產(chǎn)”的要求，并且專注于滿足電路板生產(chǎn)環(huán)境的嚴(yán)格要求。
Compact系列利用人體工程學(xué)設(shè)計(jì)方法，并且能夠提供最高程度的靈活性以及高精度高速度測量，同時(shí)設(shè)備體積小只占用少量場地面積，使該系列成為高性能且可靠產(chǎn)品。
Compact 系統(tǒng)代表以下問題的最佳解決方案:
模擬和數(shù)字在線測試ICT
上電后模擬和數(shù)字功能測試
邊界掃描測試
數(shù)字元器件在板編程（微控制器、存儲(chǔ)器等的在板編程等…）
高壓測試
Compact系列線的特點(diǎn)是專注于測試成本的優(yōu)化，精益的外形尺寸設(shè)計(jì)能夠有效縮減占地面積、同時(shí)Compact系列的高速性又能有效的減少測試時(shí)間的消耗。
Compact的所有系統(tǒng)都基于Seica VIP平臺(tái)打造，其綜合了ACL綜合測量儀器以及VIVA管理軟件；同時(shí)如果需要，Compact系統(tǒng)也可以通過替代軟件包進(jìn)行測試（如LabviewTM、LabWindowsTM/CVI和美國國家儀器公司的Test StandTM。
Compact Line包括不同型號，以滿足最廣泛的技術(shù)和成本要求：
Compact TK Next >series
Compact SL Next >series
Compact Multi
Compact Power
Compact Multimedia
Compact Digital Next> series
如果在設(shè)備性能和/或人體工程學(xué)方面有特殊的要求，Seica可以為客戶打造專屬Compact系列定制化解決方案，集成第三方儀器和軟件包，或客戶指定專用的硬件和軟件模塊，以滿足特殊的定制的要求。
產(chǎn)品介紹資料：
Compact- LINE-UK-20_Layout 1 (seica.com)
